蔡司METROTOM工业CT三维x射线测量系统

描述

蔡司METROTOM工业CT三维x射线测量系统。计算机断层扫描可以让您成功地执行测量和检查工作，自己只需要一次x射线扫描。标准的验收测试、精密的工程设计和精密的校准过程确保了系统的可追溯性。直线导轨和转台满足客户对精度的最高要求。ZEISS CALYPSO参考软件可用于计量评估。

测量和检查完整的部件
蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描仪，用于测量和检查塑料或轻金属制成的完整部件。在传统的测量技术中，隐藏结构的检测需要经过一层一层的破坏过程。

轻松而精确地测量许多特性
使用蔡司METROTOM计算机断层扫描系统，可以在一次运行中扫描多个组件的特征。测量结果是精确和可追踪的。与接触式测量方法不同，蔡司METROTOM在捕捉众多测点时速度显著加快。

直观的处理与简单的机器软件
经过一个关于如何使用蔡司METROTOM操作系统机器软件的短期培训课程，操作人员能够对组件进行断层扫描，并观察组件的内部。使用ZEISS CALYPSO，您可以评估CT数据，使用ZEISS PiWeb，它们可以快速合并在一个单一的测量报告。