蔡司SURFCOM CREST表面轮廓数控工作站
通过蔡司
标识号:
SURFCOM波峰
产品信息
描述
SURFCOM CREST CNC测量站,用于轮廓和表面的结合测量。蔡司的轮廓和表面测量技术旗舰具有高分辨率和激光干涉测量系统。SURFCOM CREST常用于校准实验室。
精确、通用、动态SURFCOM CREST在精度和速度方面设定了新的标准。该机器在一次测量运行中测量表面参数和轮廓,并以其测量范围和42,000,000:1的分辨率之间的极好的比率印象。
这使得SURFCOM CREST能够在非常大的范围测量最轻微的表面粗糙度和轮廓,所有这些都在一个测量运行。SURFCOM CREST在Z轴上使用激光干涉仪作为测量系统,使其非常精确。测量台采用线性驱动,确保它比传统主轴驱动的测量机更快,振动更低。旋转线性X跟踪驱动器在倾斜工件上也具有更大的灵活性。
在汽车技术、机械工程和医疗技术行业,SURFCOM CREST的精度和吞吐量至关重要。例如:SURFCOM CREST是镜片,精密轴承,驱动主轴,轨道,注射器,植入物和精确研磨,研磨,珩磨和研磨零件的理想选择。这就是为什么SURFCOM CREST经常被发现在校准实验室。
优势
0.31纳米的分辨率保证了极其稳定和高度精确的测量结果。SURFCOM CREST的分辨率比传统系统高5倍
激光干涉仪作为测量系统的最大精度。
X向测量误差:±(0.2 + L/ 1000)µm
极好的测量范围与分辨率的比值。在一个非常大的测量范围内,最轻微的表面粗糙度和轮廓可以在一次运行中测量。
更大的吞吐量得益于广泛的自动化可能性
更高的灵活性,倾斜功能通过CNC旋转跟踪驱动器,±45°旋转范围和200毫米跟踪驱动器
长穿透深度,用于测量深部特征
圆柱形触针和手臂系统,易于自动测量
方便的直径或壁厚测量与T型笔
由于测量范围与分辨率的杰出比率:4200万比1,更精确和通用
规范
- 细节:分辨率0.31 nm (50 mm触针)
测量路径为200 mm时,X轴直线度误差为0.11 m
X轴测量误差为±0.4 μ m,测量径为200 mm
穿线长度/分辨率:200 mm/0.54 nm
触针和手臂偏转:13毫米(50毫米触针)
26毫米(100毫米唱针)
测量速度0.03 mm/s20 mm/s
定位速度可达200mm /s - 规格:高灵活性:机器的设计非常适合与特定零件夹具的连接。全自动CNC表面测量:更快,更可靠和更划算由于5数控轴短设置*通过一个集成的专利Y跟踪司机在X轴通过集成测量各个方向旋转传感器大大快维护少、比与标准系统由于非接触式振动线性驱动器的X全面的安全设计,最大限度地保障操作人员和机器的安全。可选:更换数控触针。可选:额外的旋转轴和尾座,用于曲轴和凸轮轴的全自动测量